快速溫變試驗箱主要用于考察產(chǎn)品熱機械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20/分鐘，實現(xiàn)以最快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件。當構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應力較大時，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設計缺陷和工藝問題的有效方法。 工作原理： 快速溫度變化試驗箱高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成。過程由制冷劑經(jīng)壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進行熱交換，將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功，這時制冷劑溫度降低。最后制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復始從而達到降溫之目的。 快速溫度變化試驗箱用途： 快速溫度變化試驗箱用于航空產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗各性能指標。 設備滿足以下標準： 1、GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件； 2、GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件； 3、GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則； 4、GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗； 5、GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗； 6、GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗； 7、GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫； 8、GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫； 9、GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗； 10、GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）； 11、GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。 |
